AMOLED畫素電路外部補償演算法及數位IC開發

近年來,隨著人工智慧(AI)的不斷蓬勃發展,顯示器領域也成為了其廣泛應用的一個場景。特別是在AMOLED和micro-LED顯示器方面,我們經常遇到各種問題,如發光元件老化、驅動電路老化、串擾、I-R drop/rise、溫度等,這些因素都會對顯示器的亮度均勻性造成影響。無論是利用卷積神經網絡(CNN)直接讓模型提取顯示畫面亮度的特徵,還是使用機器學習(ML)的方法快速對不同亮度的像素進行分類,甚至是利用神經網絡(NN)來預測顯示器老化的亮度趨勢,都能夠快速、有效地改善顯示器的亮度均勻性。在電子紙技術方面,同樣可以利用AI模型來代替人工調整波型,從而減少大量的手動調整時間成本。同時,AI模型還可以進一步找出最佳的波型,從而增加顯示器的更新率。最後再將所開發之模型及補償機制利用現場可程式化邏輯閘陣列(FPGA)開發週期短、靈活性高等特性,可對補償機制進行快速的驗證。AI技術不僅提高了顯示器的性能和品質,也大大提高了生產效率,為顯示器行業帶來了新的發展機遇。 下列技術為實驗室在不同應用下所開發之外部補償演算法:

更多技術...

大尺寸AMOLED外部補償演算法 Algorithm
利用深度學習AI模型生成可提升電子紙畫面更新率之灰階驅動波型 digital IC
基於AI之新式AMOLED Demura與Deburn-in補償開發及FPGA系統 digital IC